跟大家讲一个法律小常识

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因此，法律基板信号以金属铝和金的典型BE值记录，这证明样品和光谱仪之间有良好的电接触。每次测量中探测区域的大小为0.3×0.7mm2（用红色矩形表示）[1]为了排除表面充电现象的可能影响，小常作者还记录了Al2p、Au4f和O1s核心能级光谱。

家讲在单独的实验中验证了Al-O峰。图3.从铝箔和金箔样品（如右图所示）记录的外源碳的C1s光谱作为横向位置的函数，法律从铝箔(1)到金箔(9)以0.1mm的步长变化。此外，小常C1s峰位置还与样品表面性质有关，半导体或者绝缘体在X射线照射下可在表面积累电荷，改变碳的电子电离后的动能，引起C1s峰位置的移动。

瑞典林雪平大学（LinköpingUniversity）的GrzegorzGreczynski和LarsHultman一直致力于研究XPS数据校准方法存在的问题，家讲并在最近的实验研究中给出了直接证据。随着从位置1（铝箔）移动到位置9（金箔），法律Al2p信号强度逐渐降低，峰值位置没有变化，而Au4f峰值的强度（图4b）增加。

如图3 所示，小常支配AdC的C1s光谱的C-C/C-H峰的BE，小常很大程度上取决于探测的样品区域，记录的数据从AdC/Al的286.6eV（底部光谱）到AdC/Au的285.0eV（（顶部）变化。

图1.不同金属表面的C1sXPS谱图[2]其实在2020年1月24日，家讲GrzegorzGreczynski和LarsHultman二人就在Angew.Chem.Int.Ed.上发表观点性文章，家讲《无知的仪器校准损害科学需要重新审视半个世纪已发布的XPS数据》「CompromisingSciencebyIgnorantInstrumentCalibration—NeedtoRevisitHalfaCenturyofPublishedXPSData」。然而，法律业内人士指出，打折降价，在很大程度上是一种自杀行为。

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